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摘要:
采用钎焊工艺对LTCC电路基板与封装载体进行互联,针对大尺寸LTCC电路基板与封装载体钎焊接头的强度特性和失效特征进行了分析.结果 表明,LTCC电路基板(焊盘为Au/Pt/Pd)与载体(表面镀层Au 0.5μm)采用Sn63Pb37共晶钎料大面积钎焊后接头的抗剪强度平均值为28.21 MPa,而异常试样的抗剪强度只有平均值的30%.LTCC焊盘较为疏松,内部密布贯穿孔洞,钎焊后锡铅钎料中的Sn元素通过孔洞进入到LTCC焊盘内部,且部分到达LTCC焊盘与LTCC电路基板的界面部位,并在LTCC焊盘内部形成了大面积的非枝晶状的金锡合金AuSn4.抗剪强度异常试样LTCC焊盘与LTCC电路基板的烧结结合强度相较正常试样低,是导致界面失效、钎焊接头抗剪强度降低的主要原因.
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文献信息
篇名 LTCC电路基板大面积钎焊接头强度特性和失效分析
来源期刊 焊接 学科
关键词 低温共烧陶瓷 电路基板 大面积钎焊 抗剪强度 失效分析
年,卷(期) 2021,(4) 所属期刊栏目 试验研究
研究方向 页码范围 28-34
页数 7页 分类号 TG454
字数 语种 中文
DOI 10.12073/j.hj.20210316001
五维指标
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研究主题发展历程
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低温共烧陶瓷
电路基板
大面积钎焊
抗剪强度
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