微波暗室的剩余互调测量初探

• 作者: 朱辉
• 来源期刊: 中国无线电
• 年，卷（期）: 2021,（1）
• 所属期刊栏目: 监测检测
• 页码范围: 31-34
• 页数: 4页
• 语种: 中文

摘要

0引言:为什么要测量微波暗室的剩余互调 微波暗室分为全电波暗室和半电波暗室.全电波暗室定义为六面装有吸波材料的屏蔽室,用于模拟自由空间;半电波暗室则是五面装有吸波材料,地面为反射面,用于模拟开阔场.常见的微波暗室的墙体由铁氧体材料加微波吸波材料组成.和其他无源器件一样,微波暗室也遵循互调产生的机理.在大功率多载频的作用下,微波暗室的墙体(铁氧体和吸波材料)会产生互调.在天线的无源互调测试中,如果微波暗室自身的互调大于被测天线的互调或能与之相比拟,则会影响天线互调的测试精度.因此,我们将微波暗室(为天线互调测量提供环境)自身的无源互调产物称为剩余互调.