等离子体表面梯度硅沉积对环氧树脂电气性能的影响

• 作者: 彭程凯 闫纪源 康玉婵 宋岩泽 张亚辉 马国爽 万子剑 谢庆
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 关键词: 等离子体 梯度改性 硅沉积 环氧树脂 表面电导率 沿面闪络
• 年，卷（期）: 2021,（6）
• 所属期刊栏目: 等离子体及应用技术|Plasma and Its Application Technology
• 页码范围: 148-156
• 页数: 9页
• 分类号: O53
• 语种: 中文
• DOI: 10.11884/HPLPB202133.210106

摘要

环氧树脂作为常见的绝缘材料,在高压直流电场作用下易在其表面积累电荷,发生电场畸变,导致材料绝缘性能下降,影响电力系统运行可靠性.为改善气固界面的电荷特性和绝缘性能,在大气压等离子体射流技术的基础上,对环氧树脂表面进行等离子体梯度硅沉积处理.对改性前后环氧树脂表面理化特性、表面电导率、表面电荷消散和沿面耐压特性进行了多参数测量.实验结果表明,梯度改性对材料表面的物理形貌和化学组分均有明显影响,不同区域的电导率实现了梯度分布,加快了表面电荷消散速度,表面陷阱能级变浅;梯度改性后的样品沿面闪络电压提升幅度可达30.16％.通过等离子体表面梯度硅沉积处理能够改善环氧树脂表面电气性能,在高压直流设备的绝缘设计方面具有广阔的应用前景.