空间行波管输能窗组件贮存失效分析

• 作者: 王国建 赵丽 陆玉新 田宏 石文奇
• 来源期刊: 电子与信息学报
• 关键词: 空间行波管 输能窗 贮存失效
• 年，卷（期）: 2021,（5）
• 所属期刊栏目: 电子器件|Electronic Device
• 页码范围: 1480-1484
• 页数: 5页
• 分类号: TN124
• 语种: 中文
• DOI: 10.11999/JEIT200103

摘要

高频组件是空间行波管的主要部件,是管内传播高频电磁波的重要传输部件,其中陶瓷封接部位一般采用银焊料进行焊接,它一般存放于真空柜中.存放一段时间后,组件表面出现了发黑现象.分析表明真空柜中放置的橡胶制品导致了高频组件银焊料焊接部位发生硫化,导致贮存失效.结合实验结果和理论分析,在大气状态下,橡胶套中的硫是比较稳定的.然而在真空状态下,硫是比较容易从橡胶套中升华进入真空柜中的,从而会在真空柜中弥漫大量硫蒸气,这些硫蒸气与银焊料发生化学反应形成Ag2S,因此含硫的橡胶套不宜放入真空柜.