基于STM32单片机的简易电路特性测试仪

• 作者: 李申 陈康宁 汪帅 李寒 贾巍
• 来源期刊: 电子制作
• 关键词: STM32单片机 ADC检测 三极管放大 特性测试 参数测量
• 年，卷（期）: 2021,（11）
• 所属期刊栏目: 电子测量
• 页码范围: 59-60,91
• 页数: 3页
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-5059.2021.11.020

摘要

本系统是基于STM32单片机ADC检测的简易电路特性测试仪,用于检测三极管放大电路的基本工作特性,同时可以在电路发生故障时,判断电路故障的位置及原因.本系统以STM32单片机主控模块为核心,电路经DDS信号发生器模块产生所需的正弦波信号,经信号调理网络后进入三极管放大电路,同时在放大电路的输入端串联电阻、输出端并联电阻进行电路特性的检测,分别测量放大电路输入端和输出端信号的幅值及频率,经单片机处理后在屏幕上显示所需结果.本系统可测量放大电路的输入阻抗、输出阻抗、增益放大倍数、以及进行电路故障原因分析.