基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取       
摘要:
本文主要介绍了某设备使用的型号为RJK52-0.1W-121KΩ-F-N电阻器出现批次失效事件,通过故障树分析法对电阻器批次失效的故障根源进行分析,确定了失效的根本原因,最终对生产工艺提出新的要求.
推荐文章
片式膜电阻器的典型失效模式、机理及原因分析
片式膜电阻器
工艺流程
失效模式
失效机理
失效分析
片式膜电阻器过电应力失效模式及机理研究
片式膜电阻器
失效模式
失效机理
可靠性
电阻器设计研究探讨
电阻器
电阻允差
热耗散
研究
"三防"对片式厚膜电阻器阻值的影响探讨
片式厚膜电阻器
三防
热膨胀系数
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
(/次)
(/年)
文献信息
篇名 从某电阻器批次失效事件着手分析并改进生产工艺实例
来源期刊 电子世界 学科
关键词
年,卷(期) 2021,(5) 所属期刊栏目 探索与观察
研究方向 页码范围 57-58
页数 2页 分类号
字数 语种 中文
DOI
五维指标
传播情况
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献  (0)
共引文献  (0)
参考文献  (0)
节点文献
引证文献  (0)
同被引文献  (0)
二级引证文献  (0)
2021(0)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(0)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(0)
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子世界
半月刊
1003-0522
11-2086/TN
大16开
北京市
2-892
1979
chi
出版文献量(篇)
36164
总下载数(次)
96
总被引数(次)
46655
论文1v1指导