高压脉冲功率多层瓷介电容器外部应力对可靠性影响分析研究

• 作者: 郑松 展学磊
• 来源期刊: 电子世界
• 年，卷（期）: 2021,（21）
• 所属期刊栏目: 探索与观察
• 页码范围: 41-42
• 页数: 2页
• 语种: 中文

摘要

随着高压脉冲功率多层瓷介电容器广泛应用于军民领域,产品失效问题也日益凸显.本文主要针对外部应力对脉冲功率多层瓷介电容器可靠性影响及改善措施开展研究工作,解决脉冲功率多层瓷介电容器在使用过程由于处理不当造成受损进而影响可靠性的问题,提高产品的可靠性.