真菌对硅橡胶绝缘子电气性能影响的研究

• 作者: 陈杰 安之焕 唐占元 卢志超 高健 韦克强 冯娜 杨世芳
• 来源期刊: 绝缘材料
• 关键词: 硅橡胶绝缘子 真菌生长 憎水性 污闪电压
• 年，卷（期）: 2022,（6）
• 所属期刊栏目: 材料研究
• 页码范围: 28-34
• 页数: 6页
• 分类号: TM216
• 语种: 中文
• DOI: 10.16790/j.cnki.1009-9239.im.2022.06.005

摘要

本文介绍了真菌的相关特性，在实验室条件下培养真菌并移植到硅橡胶绝缘子表面，然后对受污染的硅橡胶材料进行静态接触角、盐密、灰密及污闪电压的测量，从而分析真菌对于硅橡胶绝缘子憎水性的抑制情况及对污闪电压的影响。结果表明：真菌附着在硅橡胶绝缘子的表面使绝缘子的憎水性能下降，真菌的浓度越大，憎水性越差；硅橡胶绝缘子表面的污闪电压也因真菌的附着稍有下降；同时，真菌浓度越大，相应的盐密和灰密越高。