一二次融合配电开关辐射磁场规律及其对智能传感器影响分析

• 作者: 路文超 段建东 成林 郭琳云 李再男
• 来源期刊: 高压电器
• 关键词: 一二次融合 电磁干扰 球隙击穿 智能传感器
• 年，卷（期）: 2024,（3）
• 所属期刊栏目: 研究与分析
• 页码范围: 8-16
• 页数: 9页
• 语种: 中文
• DOI: 10.13296/j.1001-1609.hva.2024.03.002

摘要

一二次融合技术使得配电开关中二次智能传感单元近距离布置于一次高压电磁环境，配电开关因为电磁干扰产生大量故障。文中利用可控电弧放电原理，针对某型号10 k V一二次融合配电开关搭建了暂态电磁干扰模拟试验平台，获得了该户外一二次融合配电开关干扰信号，其中重点研究了智能传感器附近空间磁场规律；对配电终端（FTU）进行了屏蔽效能分析，计算了传感器合并单元电源线受扰情况。结果表明：一二次融合配电开关中智能传感器可能在持续强暂态电磁骚扰下发生严重故障，文中所研究的电磁暂态模拟试验系统可对智能传感器抗强电磁干扰能力进行考核，现有标准不能满足一二次融合结构下智能传感类设备抗强电磁干扰能力检测需求。