原文服务方: 绝缘材料       
摘要:
气体介质绝缘强度与分子微观参数的关联研究,有利于提高SF6替代气体的研发效率。本文基于密度泛函理论,采用M06-2X泛函与def2系列基组,建立73种气体分子稳定结构,计算表征电子概率密度差的福井函数参数,分析其与绝缘强度的相关性,最终建立相应预测模型。结果表明:微观参数中亲电指数、局部简缩亲电指数最小值、局部简缩亲核指数最小值、分子体积、局部表面亲电指数极大值、局部表面亲核指数极小值与绝缘强度的相关性较强,预测模型在电子概率密度为0.000 05 a.u.时,可决系数达到最大值为0.812,均方误差为0.094。
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文献信息
篇名 基于福井函数参量的气体介质绝缘强度的构效关系模型研究
来源期刊 绝缘材料 学科
关键词 SF6替代气体 绝缘强度 福井函数 构效关系
年,卷(期) 2024,(7) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 89-95
页数 7页 分类号
字数 语种 中文
DOI 10.16790/j.cnki.1009-9239.im.2023.07.014
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研究主题发展历程
节点文献
SF6替代气体
绝缘强度
福井函数
构效关系
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
绝缘材料
月刊
1009-9239
45-1287/TM
大16开
1966-01-01
chi
出版文献量(篇)
2892
总下载数(次)
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总被引数(次)
19598
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