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电子产品可靠性与环境试验期刊
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基于高加速寿命试验的 MLCC 寿命建模研究
基于高加速寿命试验的 MLCC 寿命建模研究
作者:
黄俊钦
曹秀华
刘建梅
吴福根
杨少华
.广东工业大学物理与光电工程学院
.广东风华高新科技股份有限公司新型电子元器件关键材料与工艺国家重点实验室
.工业和信息化部电子第五研究所
.电子元器件可靠性物理及其应用技术国家级重点实验室
原文服务方:
电子产品可靠性与环境试验
多层片式陶瓷电容器;高加速应力;寿命试验;寿命模型
摘要:
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文献信息
篇名
基于高加速寿命试验的 MLCC 寿命建模研究
来源期刊
电子产品可靠性与环境试验
学科
工学
关键词
多层片式陶瓷电容器;高加速应力;寿命试验;寿命模型
年,卷(期)
2025,(3)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
55-59
页数
5页
分类号
字数
语种
中文
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多层片式陶瓷电容器;高加速应力;寿命试验;寿命模型
研究起点
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研究分支
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
主办单位:
工业和信息化部电子第五研究所(中国电子产品可靠性与环境试验研究所)
出版周期:
双月刊
ISSN:
1672-5468
CN:
44-1412/TN
开本:
大16开
出版地:
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
邮发代号:
创刊时间:
1962-01-01
语种:
中文
出版文献量(篇)
2803
总下载数(次)
0
总被引数(次)
9369
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