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LSI制造与测试1996年第4期出版文献
出版文献量（篇）
366
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LSI制造与测试
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主办单位：
上海光学仪器研究所
ISSN：
CN：
31-1459/TN
出版周期：
双月刊
邮编：
200062
地址：
出版文献量（篇）
366
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1. 新型晶体管测试仪刊名： LSI制造与测试发表期刊： 1996年4期页码:摘要： 本文阐述了新型晶体测略仪的硬件和软件的特点，着重介绍系统的硬件体系结构和高精度的精密测量单元。文章较详细地论述电流增益ＨＦＥ的快速逼近法。
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2. 晶体管测试仪软件系统刊名： LSI制造与测试发表期刊： 1996年4期页码:摘要： 本文首先介绍晶体管测试的概念，阐述晶体管测试仪的体系结构和晶体管参数的测试方法，并较为详细地描述测试系统的软件结构。
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刊名： LSI制造与测试发表期刊： 1996年4期页码:摘要： 本文综述叙述了国外计算机辅助ＩＣ测试软件工程需要与最新发展，特别是介绍我国：八五”攻关项目－测试开发系统的研究结果。
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刊名： LSI制造与测试发表期刊： 1996年4期页码:摘要： 本文描述了国家八五攻关项目－测试开发系统ＴｅＩＦ中，测试图形中间格式语言开发环境的设计与实现，以及ＴｅＩＦ虚拟机的实现。
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刊名： LSI制造与测试发表期刊： 1996年4期页码:摘要： 本文描述了测试开发系统ＴｅＤＳ中，ＢＪ３１４０测试机的图形语言的交互移植，解决ＴｅＤＳ图形中间格式语言与ＢＪ３１４０的测试图形语言的变换和生成问题。
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刊名： LSI制造与测试发表期刊： 1996年4期页码:摘要： 在测试开发系统－ＴｅＤＳ中，我们定义了元测试程序设计语言ＴＯＰＣｔ ＴｅＩＦ，它们是在多种测试程序的脱开发和移植中起桥梁作用，用它们开发和变换生成的元测试程序主要用来生成不同的测试程序，鉴...
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刊名： LSI制造与测试发表期刊： 1996年4期页码:摘要： 本文在国家八五重点攻关项目“测试开发系统ＴｅＤＳ”的研究成果基础上，提出了一种颓对象的集成电路功能测试建模方法，并在此基础上实现了一个可视化集成电路功能测试建模与验证系统ＦＭＶＳ。
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刊名： LSI制造与测试发表期刊： 1996年4期页码:摘要： 测试程序的初始开发费用随着集成电路器件的发展居高不下；另一方面，随着器件速度和产量需求的提高，常常需要在不同测试仪上测试同类器件，然而各测试仪厂家之间仍然缺乏共同的标准。
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刊名： LSI制造与测试发表期刊： 1996年4期页码:摘要： 产生式系统是一种简单有效的专家系统，由知识库和推理机两部分构成，适于构造简单的应用系统。
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10. C—TeSS测试语言刊名： LSI制造与测试发表期刊： 1996年4期页码:摘要： Ｃ－ＴｅＳＳ测试语言是国家“八五”科技攻关项目《大型测试系统的软件系统》的测试程序编程语言。本文阐述了Ｃ＿ＴｅＳＳ的测试语言的特点，详细介绍了Ｃ＿ＴｅＳＳ测试语言的结构及功能。
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11. 大型测试系统直流子系统校准刊名： LSI制造与测试发表期刊： 1996年4期页码:摘要： 本文根据实践，提出了大型测试系统直流子系统校准的算法和经验，并重点分析了采样点的拟合过程。
LSI制造与测试基本信息
| 刊名 | LSI制造与测试 | 主编 | |
| 曾用名 | |||
| 主办单位 | 上海光学仪器研究所 | 主管单位 | |
| 出版周期 | 双月刊 | 语种 | |
| ISSN | CN | 31-1459/TN | |
| 邮编 | 200062 | 电子邮箱 | |
| 电话 | 021-650226 | 网址 | |
| 地址 | 上海江西中路450号 |
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