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摘要:
研究了不同气氛对正温度系数电阻器长期使用影响。在大多数情形中,这种电阻器性能的下降,说得通的机制似乎是晶粒间界上氧的挥发,这种挥发是由于样品周围氧分压减小产生的。然而,CCl2F2的影响更多的归结为化学机制。
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文献信息
篇名 PTC电阻器的长期使用
来源期刊 上海硅酸盐 学科 工学
关键词 PTC 电阻器 长期使用
年,卷(期) 1990,(1) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 52-55
页数 4页 分类号 TM54
字数 语种
DOI
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1990(0)
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研究主题发展历程
节点文献
PTC
电阻器
长期使用
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
上海硅酸盐
季刊
31-1236/TQ
上海市定西路1295号
出版文献量(篇)
295
总下载数(次)
2
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