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摘要:
对微位移工作台升降运动的精确控制是实现大规模集成电路中薄膜台阶高度测量自动化的关键.本文介绍了一种新型的微位移工作台升降模糊控制系统,它具有亚微米级的运动精度,保证了工作台升降快速、准确,运行平稳,对触针无冲击.在台阶高度测量中,应根据被测样品材料选择适当的测量力,该文测量力的设定是通过工作台上升或下降到相应位置来完成的.实验表明:工作台上升时间仅10 s左右,测量力设定误差小于6 μN.
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文献信息
篇名 亚微米微位移工作台升降模糊控制系统
来源期刊 清华大学学报(自然科学版) 学科 工学
关键词 台阶测量 工作台 模糊控制 触针测量力
年,卷(期) 1998,(2) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 47-50
页数 分类号 TH16
字数 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:1000-0054.1998.02.013
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 周兆英 清华大学精密仪器与机械学系 205 3706 31.0 54.0
2 李庆祥 清华大学精密仪器与机械学系 84 2180 20.0 45.0
3 王云庆 清华大学精密仪器与机械学系 4 27 2.0 4.0
传播情况
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1996(1)
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2000(2)
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研究主题发展历程
节点文献
台阶测量
工作台
模糊控制
触针测量力
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
清华大学学报(自然科学版)
月刊
1000-0054
11-2223/N
大16开
北京市海淀区清华园清华大学
2-90
1915
chi
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