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文献信息
篇名 光电子能谱和飞行时间二次离子质谱(ESCA—ToFSIMS)联用
来源期刊 国外分析仪器技术与应用 学科 化学
关键词 XPS ToFSIMS 表面分析
年,卷(期) 1998,(4) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 45-48
页数 4页 分类号 O657
字数 语种
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 吴正龙 北京师范大学分析测试中心 41 276 7.0 15.0
传播情况
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1998(0)
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研究主题发展历程
节点文献
XPS
ToFSIMS
表面分析
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
国外分析仪器技术与应用
季刊
1001-7828
11-1088/TH
北京西直门葡萄院17号
出版文献量(篇)
1087
总下载数(次)
7
总被引数(次)
0
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