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Thickness Determination of Silicon Detectors and Calibration of CsI（Tl）
Thickness Determination of Silicon Detectors and Calibration of CsI（Tl）
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摘要：
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8×8单元CsI(Tl)探测阵列研制
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CsI(Tl)
晶体生长
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
| 篇名 | Thickness Determination of Silicon Detectors and Calibration of CsI（Tl） | ||
| 来源期刊 | 近代物理研究所和兰州重离子加速器实验室年报：英文版 | 学科 | 工学 |
| 关键词 | 硅探测器 厚度确定 CsI 刻度 碘化铯 | ||
| 年，卷（期） | 1999,（1） | 所属期刊栏目 | |
| 研究方向 | 页码范围 | 33 | |
| 页数 | 1页 | 分类号 | TL814 |
| 字数 | 语种 | 中文 | |
| DOI | |||
五维指标
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研究主题发展历程
节点文献
硅探测器
厚度确定
CsI
刻度
碘化铯
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研究去脉
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相关学者/机构
期刊影响力
近代物理研究所和兰州重离子加速器实验室年报：英文版
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出版周期：
年刊
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出版地：
兰州31号信箱中国科学院近代物理研究所出版发行社社址:北京市海淀区阜成路43号(100037)
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语种：
出版文献量（篇）
1640
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