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MCRT的特点及其扫描电路的设计
MCRT的特点及其扫描电路的设计
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摘要：
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基于CPLD的大屏幕扫描电路设计
可编程逻辑器件
点时钟
扫描单元
显示存储器
VHDL语言
基于边界扫描测试的电路单元测试性设计研究
边界扫描
超大规模集成电路
测试性设计
建立在模拟集成电路上的边界扫描设计
模拟芯片
边界扫描
TAP控制器
性能测试
基于边界扫描的数字电路自动测试系统设计
边界扫描
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真空电子技术
主办单位：
北京真空电子技术研究所
出版周期：
双月刊
ISSN：
1002-8935
CN：
11-2485/TN
开本：
大16开
出版地：
北京749信箱7分箱
邮发代号：
创刊时间：
1959
语种：
chi
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2372
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8712
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