喇曼光谱方法测量金属表面氧化膜的残余应力

• 来源期刊: 中国腐蚀与防护学报
• 学科: 工学
• 关键词: 氧化膜 残余应力 激光喇曼 高温氧化
• 年，卷（期）: 1999,（3）
• 页码范围: 185-188
• 页数: 4页
• 分类号: TG174
• 语种: 中文

摘要

利用表面增强激光喇曼光谱仪测量了Fecrallor(Fe－22Cr－5Al－0.3Y)合金表面Al2O3膜及Co－40－Cr合金表面Cr2O3膜的残余应力.实验条件下,两种氧化膜残余应力值分别为2GPa和1.7GPa.如果Co－40Cr合金离子注入3*1017Y+/cm2;或者Cr2O3膜发生破裂,Cr2O3膜的残余应力值显著降低.该测试方法简便,并可用于测量氧化膜内微区应力及应力分布,还可实现高温下原位测量氧化股应力.