带时间参数的测试产生

• 作者: 李华伟 李忠诚 闵应骅
• 来源期刊: 计算机学报
• 学科: 工学
• 关键词: 时间参数 测试产生 波形敏化
• 年，卷（期）: 1999,（4）
• 所属期刊栏目: 研究论文与技术报告
• 页码范围: 390-394
• 页数: 5页
• 分类号: TP302
• 字数: 4410字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0254-4164.1999.04.009

摘要

时延测试对于高速集成电路非常重要.本文介绍一个带时间参数的时延测试产生系统.该系统使用一个时刻逻辑值表来表示一个波形,并将输入波形限制为只有唯一的一个输入在0时刻有跳变,其它输入为稳定的0或1,从而实现了波形敏化条件下的时延测试产生.与以往的不考虑时间因素的时延测试产生系统相比,带时间参数的测试产生提高了故障覆盖率,并且更接近于电路的实际.