FAN算法在瞬态电流测试产生中的应用

• 作者: 邝继顺 魏小芬
• 来源期刊: 同济大学学报(自然科学版)
• 学科: 工学
• 关键词: CMOS电路 开路故障 测试产生 瞬态电流测试 D前沿
• 年，卷（期）: 2002,（10）
• 所属期刊栏目: 计算机科学与技术
• 页码范围: 1239-1243
• 页数: 5页
• 分类号: TP306
• 字数: 4530字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-374X.2002.10.018

摘要

在不考虑冒险的情况下,对于CMOS电路中的开路故障,探讨了利用FAN算法进行瞬态电流测试产生的可能性.定义了三种不同的D前沿,并将测试产生分为激活故障、使无故障电路和故障电路的瞬态电流差别最大化、减少旁路的影响三个部分. 实验结果说明,在不考虑冒险的情况下,将FAN算法应用于瞬态电流测试产生是可行的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	魏小芬	湖南大学计算机与通信学院	1	25	1.0	1.0
2	邝继顺	湖南大学计算机与通信学院	82	418	11.0	16.0