构造厚、薄板通用的可靠板元DM4单元

• 作者: 杨连
• 来源期刊: 应用数学和力学
• 学科: 物理学
• 关键词: 剪切自锁 零能模式 分片检验 相容约束条件 合理Kirchhoff约束
• 年，卷（期）: 1999,（3）
• 页码范围: 305-313
• 页数: 9页
• 分类号: O342
• 字数: 2926字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-0887.1999.03.013

摘要

在研究剪切自锁现象(shear locking)、零能模式(zero energy mode)及分片检验(patch test)等问题的基础上综合考虑了三者之间联系,更清楚地揭示了三者之间内在关系,为建立高效、可靠的厚、薄板通用单元提供了一种合理方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨连		2	6	2.0	2.0