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摘要:
按IEC1014,将研制试验中产品的故障分为A型与B型,对研制试验的所有阶段,A型故障服从失效率λ0的指数分布,阶段i的B型故障服从失效率λi的指数分布,若产品仅引入延缓纠正,则λi非增,即满足顺序约束条件:λ1≥λ2≥…≥λm,基于此条件,在取共轭型与无信息先验分布时,本文推导了研制试验最后阶段的失效率λ=λ0+λm与可靠性R(t)=e-λt(t是任务时间)的Bayes精确限.
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文献信息
篇名 故障分类时顺序约束指数可靠性增长的Bayes精确限
来源期刊 仪器仪表学报 学科 工学
关键词 可靠性增长 顺序约束 指数分布 延缓纠正 Bayes限
年,卷(期) 1999,(6) 所属期刊栏目 学术论文
研究方向 页码范围 626-629
页数 分类号 TH7
字数 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:0254-3087.1999.06.022
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 郭建英 71 768 14.0 24.0
2 周源泉 67 364 10.0 16.0
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研究主题发展历程
节点文献
可靠性增长
顺序约束
指数分布
延缓纠正
Bayes限
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