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摘要:
扫描线算法是集成电路版图运算的主流算法,排序在其中占有相当大的工作量.针对集成电路版图的特点,提出一种线性的排序算法,其时间复杂度为O(N),比通常的快速排序算法时间复杂度(O(N log N)低,适用于基于扫描线算法的集成电路版图运算.对于层次式设计的版图,该算法更具优越性.
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快速排序
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 用于IC版图运算的O(N)排序算法
来源期刊 上海交通大学学报 学科 工学
关键词 集成电路 版图验证 层次式 扫描线
年,卷(期) 1999,(5) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 538-541
页数 分类号 TN47
字数 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:1006-2467.1999.05.009
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 林争辉 上海交通大学大规模集成电路研究所 116 603 12.0 20.0
2 李刚 上海交通大学大规模集成电路研究所 44 256 8.0 13.0
传播情况
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引文网络
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二级参考文献  (0)
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1989(1)
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2009(1)
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研究主题发展历程
节点文献
集成电路
版图验证
层次式
扫描线
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
上海交通大学学报
月刊
1006-2467
31-1466/U
大16开
上海市华山路1954号
4-338
1956
chi
出版文献量(篇)
8303
总下载数(次)
20
总被引数(次)
98140
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