VLSI版图DRC验证算法的优化

• 作者: 郭雅琳 陈岚
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 版图验证 层次式算法 扫描线算法 VLSI 深亚微米DSM
• 年，卷（期）: 2007,（11）
• 页码范围: 186-188
• 页数: 3页
• 分类号: TP3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7180.2007.11.055

摘要

介绍了版图验证的几种方法:扫描线算法和层次化验证算法,并比较其优缺点,最后着重介绍了层次式与扫描线综合验证算法,并在SUN工作站上用C++实现.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈岚	中国科学院计算技术研究所	86	361	10.0	14.0
2	郭雅琳	中国科学院计算技术研究所	1	8	1.0	1.0