电子能损引起的潜径迹

• 作者: 侯明东 刘杰 李保权
• 来源期刊: 核技术
• 学科: 工学
• 关键词: 电子能损 潜径迹 损伤缺陷
• 年，卷（期）: 1999,（7）
• 所属期刊栏目: 病虫测报
• 页码范围: 385-388
• 页数: 4页
• 分类号: TL8
• 字数: 3154字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-3219.1999.07.001

摘要

潜径迹是电子能损在凝聚态物质中引起的重要效应之一.给出了一个关于引起潜径迹电子能损阈值、损伤截面以及径迹形貌的综合评述.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘杰	中国科学院近代物理研究所	218	1905	24.0	36.0
2	侯明东	中国科学院近代物理研究所	41	177	7.0	12.0
3	李保权	中国科学院近代物理研究所	31	259	8.0	16.0