辐射损伤潜径迹的纳米尺度观测研究

• 作者: 唐孝威 翟鹏济
• 来源期刊: 原子能科学技术
• 关键词: 扫描隧道显微镜 扫描力显微镜 辐射损伤潜径迹 损伤参数 损伤机制
• 年，卷（期）: 2002,（6）
• 所属期刊栏目: 技术及应用
• 页码范围: 564-568
• 页数: 5页
• 分类号: O571.33
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-6931.2002.06.020

摘要

综述了近年来用扫描隧道显微镜(STM)和扫描力显微镜(SFM)在原子水平上观测辐射损伤潜径迹的研究及进展.详述了辐射损伤潜径迹的形貌、损伤范围、损伤数密度、损伤几率等,对损伤潜径迹直径与能损的关系、损伤过程及各种可能的损伤机制进行了分析和讨论.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	唐孝威	浙江大学物理系	63	579	14.0	22.0
2	翟鹏济	中国科学院高能物理研究所	7	19	2.0	4.0