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RY-2W-15kΩ电阻器失效机理电子显微分析
RY-2W-15kΩ电阻器失效机理电子显微分析
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摘要：
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片式膜电阻器的典型失效模式、机理及原因分析
片式膜电阻器
工艺流程
失效模式
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片式膜电阻器
失效模式
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主办单位：
电子科技大学
出版周期：
双月刊
ISSN：
1001-0548
CN：
51-1207/T
开本：
大16开
出版地：
成都市成华区建设北路二段四号
邮发代号：
62-34
创刊时间：
1959
语种：
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