三维电子散斑干涉法在检测残余应力中的应用

• 作者: 孙平 张熹 金华
• 来源期刊: 实验力学
• 学科: 物理学
• 关键词: 三维位移场 大错位电子散斑干涉 残余应力
• 年，卷（期）: 2000,（2）
• 页码范围: 125-131
• 页数: 7页
• 分类号: O348
• 字数: 2104字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-4888.2000.02.001

摘要

本文提出一种新的大错位三维电子散斑干涉法,并将其和钻孔法检测残余应力技术结合起来.其特点一是利用三个激光器,从不同的方向照射被测物体,二是在被测物附近放置一参考物,利用大错位棱镜,使物体表面的信息和参考物上的信息都进入CCD中,可以得到与三个位移场有关的电子散斑千涉条纹图,并可以运算和分离获得独立的u,v和w场信息.本文介绍了大错位三维电子散斑干涉法的原理、方法和系统,并将其应用于用钻孔法释放残余应力而引起的u,v和w场的检测.本文将实验结果与计算机模拟的结果作了对比,证实了方法的正确,并可以直接计算出残余应力的大小.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张熹		4	88	3.0	4.0
2	孙平		2	74	2.0	2.0
3	金华	中国科学院上海光机所	4	46	2.0	4.0