一种由压电双晶片测量压电材料参数的动态方法

• 作者: 叶会英 禹延光 程明
• 来源期刊: 电子测量与仪器学报
• 学科: 工学
• 关键词: 压电双晶片 参数测量 动态测试模型 温度特性测试
• 年，卷（期）: 2000,（4）
• 页码范围: 64-69
• 页数: 6页
• 分类号: TB3
• 字数: 3058字
• 语种: 中文

摘要

本文根据悬臂梁式压电双晶片的动态导纳矩阵,提出一种压电材料参数动态测试模型,用于测量压电双晶片的几个主要材料参数:压电应变常数d31、机电耦合系数k31、介电常数εT33、弹性柔顺系数SE11及材料参数的温度特性.本文的这种测量方法不同于通常的由标准试样测量压电材料参数的方法,是直接由一种实用元件一压电双晶片(非标准试样)测量压电材料的参数.文中详细描述了测试原理、测试步骤及一种实际试样的测试结果.理论与实验结果表明:这种新的测试方法是可行的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	程明	郑州大学电子工程系	34	288	10.0	15.0
2	叶会英	郑州大学电子工程系	82	415	11.0	15.0
3	禹延光	郑州大学电子工程系	35	327	11.0	16.0