用于高温等离子体电子密度测量的摩尔偏折仪

• 作者: 傅思祖 杨军 王世绩 王琛 顾援
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 工学
• 关键词: 摩尔偏折仪 摩尔条纹 软X射线激光探针
• 年，卷（期）: 2000,（4）
• 所属期刊栏目: ICF与激光等离子体
• 页码范围: 467-470
• 页数: 4页
• 分类号: O53|TN24
• 字数: 2013字
• 语种: 中文

摘要

摩尔偏折测量术通过测量探针光束经过不均匀介质后光线的偏折来估算介质的折射率.基于这一理论,研制了实用的摩尔偏折仪,利用软X射线激光作为探针来探测高温高密等离子体的电子密度,结合软X射线激光实验做了初步的演示.