一种预测磁光盘可靠寿命的方法

• 作者: 刘素环 姜书艳
• 来源期刊: 电子科技大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 磁光盘 加速寿命测试 威布尔分布 可靠性
• 年，卷（期）: 2000,（2）
• 页码范围: 182-185
• 页数: 4页
• 分类号: TN247
• 字数: 2101字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-0548.2000.02.019

摘要

提出了利用威布尔分布参数的图分析法预测磁光盘可靠寿命的方法,克服了以往仅针对单一或特定结构的分析,将磁光盘作为一个系统来综合考察,以误码率作为磁光盘的失效判据,通过对磁光盘两个温度点的高温恒定应力加速寿命试验结果的分析,计算出了磁光盘在25℃正常大气条件下的可靠寿命.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	姜书艳	电子科技大学自动化系	30	199	8.0	13.0
2	刘素环	电子科技大学自动化系	1	0	0.0	0.0