VLSI功能测试的最佳测试序列的选取

• 作者: 曾成碧 陈光()
• 来源期刊: 电子科技大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 最佳测试序列 功能测试 数字电路 Petri网
• 年，卷（期）: 2000,（2）
• 页码范围: 178-181
• 页数: 4页
• 分类号: TN707
• 字数: 2208字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-0548.2000.02.018

摘要

介绍了VLSI功能测试向量生成的Petri网模型和Petri网模拟测试序列中指令的关系,构造了压缩存储网络的拓扑信息的Petri网简约矩阵.用Petri网简约矩阵检查测试序列的不确定度,使测试序列不确定度最小,从而优化了测试序列,即从给定的指令中选出了最佳测试序列.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	曾成碧	四川大学电力系	70	617	12.0	22.0