充电法测量表面电荷衰减的数学模型

• 作者: 范立思 谭志良 魏光辉
• 来源期刊: 包装工程
• 学科: 物理学
• 关键词: 衰减时间 电荷衰减 数学模型
• 年，卷（期）: 2000,（4）
• 所属期刊栏目: 理论与实验研究
• 页码范围: 3-4
• 页数: 2页
• 分类号: O441
• 字数: 999字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-3563.2000.04.002

摘要

以美国标准中的充电法为研究对象,建立了充电测量包装材料静电衰减性能的数学模型,并通过实验验证了数学模型的正确性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	魏光辉	军械工程学院静电技术研究所	186	1593	18.0	31.0
2	谭志良	军械工程学院静电技术研究所	62	313	9.0	15.0
3	范立思	军械工程学院静电技术研究所	4	13	2.0	3.0