智能型半导体器件测试系统的抗干扰措施

• 作者: 李雪莉 焦阳
• 来源期刊: 河北科技大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 微机控制系统 抗干扰 可靠性
• 年，卷（期）: 2000,（2）
• 页码范围: 64-66
• 页数: 3页
• 分类号: TP202+.01
• 字数: 1621字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-1542.2000.02.017

摘要

针对智能型半导体器件测试系统的主要干扰源作了详细的理论分析,并从硬件、软件两个方面介绍了一些提高整个系统可靠性的抗干扰措施.实际运行表明,这些抗干扰措施为该系统的可靠、稳定运行提供了有力的保证.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	焦阳	河北科技大学信息工程学院	24	194	8.0	13.0
2	李雪莉		3	3	1.0	1.0