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摘要:
在真空度为133.3 μPa时,用真空气相沉积方法在玻璃衬底上沉积SnO2薄膜.通过XRD、SEM等测试分析,研究了杂质掺杂及热处理前后的SnO2薄膜的结构、晶粒尺寸、电学特性以及不同工艺条件对薄膜性能的影响.结果表明,掺Bi有效地抑制了晶粒生长,提高了薄膜的稳定性.掺Bi后,薄膜的电学特性增强,而掺In、Cd则影响不大.
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内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 纳米SnO2薄膜的制备、结构和性能研究
来源期刊 内蒙古大学学报(自然科学版) 学科 工学
关键词 纳米SnO2薄膜 制备 结构 性能
年,卷(期) 2000,(4) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 376-379
页数 4页 分类号 TMO484.4
字数 2281字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1000-1638.2000.04.008
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李明华 内蒙古大学物理学系 21 50 4.0 5.0
3 宋淑芳 内蒙古大学物理学系 5 19 4.0 4.0
4 季秉厚 内蒙古大学物理学系 10 106 5.0 10.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
纳米SnO2薄膜
制备
结构
性能
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
内蒙古大学学报(自然科学版)
双月刊
1000-1638
15-1052/N
大16开
呼和浩特市赛罕区大学西街235号
16-67
1959
chi
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6
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