可靠性设计、试验与设备

• 来源期刊: 电子科技文摘
• 学科: 工学
• 关键词: 加速环境试验 可靠性设计 遗传算法 全寿命周期管理 电子产品可靠性 可靠性工程 互连测试 可靠性水平 现实意义 市场竞争能力
• 年，卷（期）: 2000,（12）
• 页码范围: 4-4
• 页数: 1页
• 分类号: TN

摘要

【正】 0019782产品全寿命周期管理中的加速环境试验技术[刊]李俭川//电子产品可靠性与环境试验.—2000,(4).—45～48(A)加速环境试验技术已应用于电子、军工、航空、航天等领域内的可靠性工程中。将加速环境试验融入产品的设计、研制和生产中,对于提高产品的可靠性水平,增强其市场竞争能力具有现实意义。参70019783基于遗传算法的 PCB 互连测试矢量集优化初探[刊]/卢静//桂林电子工业学院学报.—2000,20(3),—41～