红外焦平面阵列均匀性正技术研究

• 作者: 谈新权 陈锐
• 来源期刊: 信息与开发
• 学科: 工学
• 关键词: 红外焦平面阵列 非均匀性校正 两点校正法 恒定统计平均法 高通滤波
• 年，卷（期）: 2001,（3）
• 页码范围: 19-22
• 页数: 4页
• 分类号: TN215

摘要

对国内外广泛应用的两点校正法进行了原理探讨，并阐述了恒定统计平均法、叶域高通滤波器法和神经网络校正法等几种正在实验室大力研究的非均匀性校正技术。