基于机内测试(BIT)的LCC模型改进

• 作者: 张恒喜 董彦非 马新力
• 来源期刊: 空军工程大学学报(自然科学版)
• 学科: 工学
• 关键词: 寿命周期费用 机内测试 费用模型 电子系统
• 年，卷（期）: 2001,（4）
• 页码范围: 25-28
• 页数: 4页
• 分类号: TB114.3
• 字数: 3144字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-3516.2001.04.008

摘要

在分析原寿命周期费用(LCC)模型的基础上,给出了一种将机内测试(BIT)结合到电子系统LCC中的方法;推导了改进的LCC费用模型.该模型反映了采用BIT带来的益处,减少了维修时间、外部测试设备、备件等的需求量、以及对人员技术水平和预防性维修的要求.在改进的LCC模型中考虑了如下设计因素:诊断差错、诊断不明、未检测故障、BIT硬件故障和虚警等.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张恒喜	空军工程大学工程学院	132	1824	22.0	35.0
2	董彦非	空军工程大学工程学院	25	475	10.0	21.0
3	马新力	空军工程大学工程学院	2	8	2.0	2.0