PPM水平下元器件内在质量评价系统

• 作者: 刘宁 宋军建 贾新章
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 内在质量 可靠性 评价系统 工序能力指数 统计过程控制
• 年，卷（期）: 2001,（5）
• 所属期刊栏目: 研究与评价
• 页码范围: 2-7
• 页数: 6页
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2001.05.001

摘要

随着元器件质量和可靠性水平的迅速提高,国际上对待元器件内在质量的评价问题引入了新的思路[1],采用了三项主要技术(Cpk、SPC和PPM技术)[2].介绍根据这些新技术开发的元器件内在质量评价系统的组成及其功能.该评价系统适用于各类元器件生产.元器件生产厂家应该尽快采用这些技术,以便与国际要求接轨,尽早将产品打入国际市场.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	贾新章	西安电子科技大学微电子所	63	572	14.0	20.0
2	刘宁	西安电子科技大学微电子所	11	48	3.0	6.0
3	宋军建	西安电子科技大学微电子所	4	43	4.0	4.0