基于BST技术的ASIC设计

• 作者: 吴兰臻 樊桂花
• 来源期刊: 测控技术
• 学科: 工学
• 关键词: ASIC JTAG标准 边界扫描测试
• 年，卷（期）: 2001,（6）
• 所属期刊栏目: 理论与实践
• 页码范围: 44-46，49
• 页数: 4页
• 分类号: TN43
• 字数: 2301字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8829.2001.06.014

摘要

专用集成电路(ASIC)的测试需要设计一个专用测试集，测试过程复杂且成本高。而采用边界扫描测试技术设计ASIC，其测试过程简便快捷，不需要复杂和昂贵的测试设备，可降低成本，提高产品质量。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	樊桂花		23	90	6.0	8.0
2	吴兰臻		7	9	2.0	3.0