X射线能谱重叠峰的识别

• 作者: 雷平
• 来源期刊: 理化检验-物理分册
• 学科: 工学
• 关键词: X射线能谱仪 重叠峰 谱线权重
• 年，卷（期）: 2001,（5）
• 所属期刊栏目: 测试技术与方法
• 页码范围: 195-197
• 页数: 3页
• 分类号: TG115.22+1.4
• 字数: 1988字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-4012.2001.05.004

摘要

提出了一种通过谱线权重来正确识别X射线能谱重叠峰的新方法.应用该方法,成功地分析了Ti合金微区中能量差为20eV的Ti和V的重叠峰.实验表明,该方法简便、可靠,并可适用于K-Zn之间元素的分析.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	雷平	贵州师范大学实验中心	18	115	6.0	10.0