元器件质量与可靠性数据统计分布规律的拟合

• 作者: 白永亮 贾新章 龚自立
• 来源期刊: 西安电子科技大学学报(自然科学版)
• 学科: 工学
• 关键词: 可靠性 统计分布 拟合 非线性最小二乘法 拟合优度检验
• 年，卷（期）: 2001,（3）
• 所属期刊栏目: 学术论文和技术报告
• 页码范围: 336-339
• 页数: 4页
• 分类号: TN405
• 字数: 3510字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2400.2001.03.015

摘要

在元器件质量和可靠性分析中，往往要确定试验和测试数据的统计分布规律．针对元器件质量和可靠性问题的数据特点，采用非线性最小二乘法拟合方法，并开发了相应的计算机程序，用于自动确定数据的统计分布规律，对实际生产线采集的数据进行分析处理，其精度明显优于传统方法．

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	贾新章	西安电子科技大学微电子研究所	63	572	14.0	20.0
2	龚自立	西安电子科技大学微电子研究所	2	0	0.0	0.0
3	白永亮	西安电子科技大学微电子研究所	1	0	0.0	0.0