SSN研究及其在VLSI设计流程中的应用

• 作者: 任俊彦 徐志伟 徐栋麟 林越 郭新伟
• 来源期刊: 电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 同步开关噪声 超大规模集成电路 电子设计自动化
• 年，卷（期）: 2001,（11）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 1471-1474
• 页数: 4页
• 分类号: TN401
• 字数: 3396字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0372-2112.2001.11.008

摘要

本文详述了同步开关噪声(SSN)影响VLSI电路可靠性的一个主要因素:芯片-封装界面的寄生电感.根据在芯片中插入电源/地线引脚,减小芯片-封装界面的寄生电感的思想,提出一种简便有效的基于SSN性能的输出驱动器优化布局方法并将之集成到VLSI设计流程中.用0.6微米CMOS工艺进行了验证.结果表明 :该优化设计可有效降低SSN对VLSI电路可靠性的影响.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郭新伟		4	6	2.0	2.0
2	任俊彦		116	450	11.0	14.0
3	徐栋麟		7	60	5.0	7.0
4	徐志伟		9	126	4.0	9.0
5	林越		5	38	3.0	5.0