基于功能结构的数字系统可测试性设计

• 作者: 吴金 常昌远 陈超 魏同立
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: 可测试性设计 微处理器
• 年，卷（期）: 2002,（2）
• 页码范围: 170-173
• 页数: 4页
• 分类号: TN402
• 字数: 2541字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2002.02.014

摘要

可测性设计DFT技术已成为IC设计中的一个重要技术.对于不同复杂程度及规模的IC,应选择不同策略的测试方案以达到设计成本和周期的目标.基于功能结构的可测试性设计是其中一种可选择的测试方案.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴金	东南大学微电子中心	47	437	13.0	19.0
2	魏同立	东南大学微电子中心	87	942	17.0	26.0
3	常昌远	东南大学微电子中心	50	471	14.0	19.0
4	陈超	东南大学微电子中心	17	86	4.0	9.0