ICP-AES技术对钼酸铵产品中钨、硅和铝的测定

• 作者: 赵昱
• 来源期刊: 中国钼业
• 学科: 工学
• 关键词: ICP-AES 钨 硅 铝
• 年，卷（期）: 2002,（3）
• 所属期刊栏目: 分析与检测
• 页码范围: 42-44
• 页数: 3页
• 分类号: TQ049
• 字数: 1722字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-2602.2002.03.011

摘要

采用由感耦合等离子体原子发射光谱分析技术(ICP-AES)对钼酸铵产品中的钨、铝和硅的最佳测试条件的选择进行了探讨,并用所选的条件进行测试.方法简便、快速、准确,检测限和精密度可满足分析要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵昱		2	5	1.0	2.0