表面电荷积聚对绝缘子沿面闪络影响的研究

• 作者: 张乔根 汪沨 王琦 邱毓昌
• 来源期刊: 中国电力
• 学科: 工学
• 关键词: 绝缘子 表面电荷 闪络
• 年，卷（期）: 2002,（9）
• 所属期刊栏目: 输配电
• 页码范围: 52-55
• 页数: 4页
• 分类号: TM213
• 字数: 3006字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-9649.2002.09.014

摘要

通过对典型绝缘子表面电荷分布特点的分析,研究了表面电荷与放电起始间的关系.研究表明在表面电荷作用下绝缘子沿面闪络起始电压会发生变化.对110kV三相共箱式GIS绝缘子的闪络实验表明,表面电荷可使绝缘子沿面闪络电压下降23.4%.对位移电流作用下的绝缘子沿面闪络先导发展模型进行改进,补充了表面电荷对该模型的影响.指出表面电荷产生的附加电场会影响流注电晕内部正负电荷的分离速度及放电的进一步发展.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邱毓昌	西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室	228	4719	36.0	54.0
2	王琦	西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室	54	500	11.0	21.0
3	张乔根	西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室	156	1936	24.0	35.0
4	汪沨	西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室	20	479	13.0	20.0