XRF法测定铂制品中的Pt、Au、Pd、Ag、Cu和Ni

• 作者: 张文芳 李叶农 郑荣华 黄近丹
• 来源期刊: 光谱实验室
• 学科: 化学
• 关键词: XRF 铂制品 成份
• 年，卷（期）: 2002,（4）
• 页码范围: 493-497
• 页数: 5页
• 分类号: O657.34
• 字数: 2170字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-8138.2002.04.020

摘要

本文利用XRF金标样的多元素回归方程,对Pt、Pb的荧光强度进行修正,修正后的荧光强度当作Au、Ag的荧光强度代入回归方程中,利用计算机编程计算铂制品中的Pt、Au、Pd、Ag、Cu、Ni等6种元素的含量.Pt的测定范围为85%-99.92%时,该法测定的准确度优于0.5%,具有无损、快速、准确、可靠等优点.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄近丹		9	21	3.0	4.0
2	郑荣华		3	9	1.0	3.0
3	张文芳		7	17	2.0	4.0
4	李叶农		7	16	2.0	4.0