面向功耗优化的伪随机测试矢量生成

• 作者: 李锐 王佩宁 胡晨
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: 集成电路 可测性设计 内建自测试(BIST) 伪随机测试 低功耗
• 年，卷（期）: 2002,（2）
• 页码范围: 174-177
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 字数: 2534字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2002.02.015

摘要

随着集成电路设计复杂度和工艺复杂度的提高,集成电路的测试面临越来越多的挑战,内建自测试作为一种新的可测性设计方法,能显著提高电路中随机逻辑的可测性,解决一系列测试难题,但它同时也引起了测试功耗问题.本文提出了一种面向功耗优化的伪随机测试向量生成方法,在保证故障覆盖率的条件下,大大降低了测试功耗.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	胡晨	东南大学国家专用集成电路系统工程研究中心	72	709	14.0	24.0
2	李锐	东南大学国家专用集成电路系统工程研究中心	22	121	6.0	10.0
3	王佩宁	东南大学国家专用集成电路系统工程研究中心	2	11	2.0	2.0