数字电路多加权集随机测试生成方法

• 作者: 谢永乐 陈光(礻禹)
• 来源期刊: 计算机辅助设计与图形学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 故障诊断 测试生成器 加权随机测试 多加权集 超大规模集成电路
• 年，卷（期）: 2002,（6）
• 所属期刊栏目: 计算机辅助测试
• 页码范围: 571-573
• 页数: 3页
• 分类号: TP331.2
• 字数: 3090字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1003-9775.2002.06.017

摘要

提出一种基于确定性完备测试集的数字集成电路多加权集随机测试生成方法.通过引入搜索与迭代算法,将完备测试集分成若干测试子集,每一子集对应一个权集,即产生该子集中测试矢量的被测电路各主输入端取‘1'值的概率组合.该方法与文献[2-3]的结果相比,在测试序列长度或硬件开销上获得了改善,对大规模集成电路的内建自测试尤为适用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谢永乐	电子科技大学自动化系	73	549	12.0	20.0
3	陈光(礻禹)	电子科技大学自动化系	89	1213	20.0	31.0