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摘要:
提出了一种通过对光学像散量的检测来实现对物体的微位移和微振动进行实时非接触测量的新方法.该方法采用四象限光电探测器测量由于物体相对于光学系统焦点的偏离而引起的像散量,参照已标定的物体位置与像散量之间的关系,可计算出物体的实际位移或振幅.利用这套系统对压电陶瓷片的振动状态进行了测量,得到了振动的振幅及频率.测量结果表明,该系统的测量灵敏度优于17 nm.
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文献信息
篇名 像散法对微位移和微振动的实时测量
来源期刊 光子学报 学科 工学
关键词 像散 四象限探测 微位移 微振动
年,卷(期) 2003,(10) 所属期刊栏目 光学测量
研究方向 页码范围 1208-1211
页数 4页 分类号 TH822
字数 2321字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 白永林 中科院西安光学精密机械研究所瞬态光学技术国家重点试验室 22 149 7.0 11.0
3 冯晓强 中科院西安光学精密机械研究所瞬态光学技术国家重点试验室 9 68 5.0 8.0
5 贺锋涛 中科院西安光学精密机械研究所瞬态光学技术国家重点试验室 9 87 5.0 9.0
13 侯洵 中科院西安光学精密机械研究所瞬态光学技术国家重点试验室 1 27 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
像散
四象限探测
微位移
微振动
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期刊影响力
光子学报
月刊
1004-4213
61-1235/O4
大16开
西安市长安区新型工业园信息大道17号47分箱
52-105
1972
chi
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